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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測(cè)分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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zeta-APS美國MAS超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀

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美國MAS超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀 1)測(cè)量樣品不需要稀釋或樣品準(zhǔn)備，從而消除了操作失誤和數(shù)據(jù)的不確定性，同時(shí)節(jié)省了時(shí)間； 2)物有所值的諧振硬件設(shè)計(jì)； 3)寬粒徑測(cè)量范圍：從5nm到1000um； 4)自動(dòng)電位和容積測(cè)量用于簡單快速的等電位（IEP）測(cè)定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測(cè)定； 5)由于機(jī)載樣品混合和/或測(cè)量時(shí)的泵送能力，沒有粒子沉降的不利影響； 6)Zet
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固體表面Zeta電位分析儀，可測(cè)量縱向粘度，60%固體，PH值，電導(dǎo)率，溫度，聲衰減和聲速度譜；
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型號(hào)：APS100型

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多孔材料表面Zeta電位分析儀，APS 從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。
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納米粒度儀分析儀DLS 90，采用集成的光子相關(guān)器?；贔PGA的光子相關(guān)器，集成雙通道光子計(jì)數(shù)器，確保光子無遺漏；1000個(gè)物理通道，提供充足的測(cè)量數(shù)據(jù)；小100ns采樣時(shí)間，確保z低1nm顆粒的測(cè)量；芯片內(nèi)模塊集成設(shè)計(jì)，保證高速、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)處理流程。
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美國MAS超聲粒度儀和Zeta電位分析儀

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美國MAS超聲粒度儀電位分析儀自動(dòng)電位和容積測(cè)量用于簡單快速的等電位（IEP）測(cè)定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測(cè)定；
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美國MAS超聲粒度儀超聲電位分析儀

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美國MAS超聲粒度儀超聲電位分析儀自動(dòng)電位和容積測(cè)量用于簡單快速的等電位（IEP）測(cè)定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測(cè)定；
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